| تاریخ ارسال: 1401/4/1 |
آنالیز میکروسکوپ نیروی اتمی، (Atomic Force Microscope (AFM، نوعی میکروسکوپ روبشی با توانایی تصویربرداری سه بعدی از پستی بلندی‌های سطح (توپوگرافی سطحی) نمونه است که به‌خصوص در حوزه نانوساختارها مورد توجه است. این روش در مقایسه با آنالیز SEM، داری توانایی بیشتری در تعیین زبری سطوح نانومتری است. از کاربرد‌های دیگر آنالیز AFM، اندازه‌گیری ضخامت پوشش‌های نانومتری است. این میکروسکوپ توانایی تصویر برداری از کلیه سطوح از جمله سطوح غیر رسانا را نیز دارد و در دو حالت تماسی و غیر تماسی تصویر برداری می‌کند، در نتیجه برای درک ساختار سطحی یک نمونه توده‌ای نانوساختار مانند غشاها، لایه های نازک، قطعات الکتریکی لیتوگرافی شده، انجام آنالیز AFM بسیار تکنیک مناسبی است.
ارتباط با کارشناس
فرم درخواست آنالیز
| هزینه برای دانشجویان دانشگاه خوارزمی |
هزینه برای دانشجویان سایر مراکز |
هزینه برای سایر مراکز |
| ۱,۸۰۰,۰۰۰(ریال) | ۲,۲۰۰,۰۰۰(ریال) | ۲,۲۰۰,۰۰۰(ریال) |
دفعات مشاهده: 3587 بار |
دفعات چاپ: 163 بار |
دفعات ارسال به دیگران: 0 بار |
0 نظر