با توجه اهمیت تعیین ضرایب اپتیکی کریستال ها و مواد جامد ، ضریب شکست و ضریب دی الکتریک در بیان رفتار جذبی و پاسخ بازتابی مواد در گستره فرکانس نوری به ویژه قرمز تا بنفش، ( ۴۰۰ _ ۷۰۰ ) نانو متر، روش های گوناگونی مانند :
۱_ بیضی سنجی Ellipsometery
۲_ روش کرامرز کرونیگ (K - K )
بکار گرفته شده است.
در روش جدید طیف نگاری بازتابی دو گانه، با اندازه گیری دو بازتاب عمود و مایل از سطح مواد ، محاسبه قسمت حقیقی و موهومی ضریب شکست و ضریب دی الکتریک، با دقت بسیار بالا، امکان پذیر خواهد شد.
محاسبه و تعیین تابع ضریب شکست و تابع دی الکتریک ، همانند تدوین شناسنامه رفتاری و پاسخ نوری تمام قطعات اپتیکی، نیمه هادی ها، سطوح فلزی و سرامیکی و حتی پلیمری می باشد.
در این کد محاسباتی، مجموعه ای از داده های بازتابی از کاربر در یک فایل گرفته میشود و در لحظه، نتایج آماده میشوند.
شماره تماس: ۰۹۹۱۹۹۴۷۹۰۷
محسن خان احمدی دانشجوی دکتری شیمی فیزیک دانشگاه خوارزمی
ایمیل : s.ahad.bagherigmail.com